References
- W. A. de Heer, A. Chatelain and D. Ugarte, Science, 270, 1179 (1995) https://doi.org/10.1126/science.270.5239.1179
- D. S. Chung, S. H. Park and Y. W. Jin, IEEE. 179 (2001)
- W. Zhu, C. Bower, O. Zhou, G. Kochanski and S. Jin, Appl. Phys. Lett., 75, 873 (1999) https://doi.org/10.1063/1.124541
- Y. W. Jin, J. E. Jung, Y. J. Park, J. H. Choi, D. S. Jung, H. W. Lee, S. H. Park, N. S. Lee, J. M. Kim, T. Y. Ko, S. J. Lee, S. Y. Hwang, J. H. You, J. B. Yoo and C. Y. Park, J. Appl. Phys., 92, 1065 (2002) https://doi.org/10.1063/1.1489067
- F. Ito, Y. Tomihari, Y. Okada, K. Konuma and A. Okamoto, IEEE., 22, 426 (2001)
- J. M. Kim, W. B. Choi, N. S. Lee and J. E. Jung, Diam. Relat. Mat., 9, 1184 (1999) https://doi.org/10.1016/S0925-9635(99)00266-6
- C. Bower, D. Shalom, W. Zhu, D. Lopez, G. Kochanski, P. Gammel and S. H. Jin, IEEE., 49, 1478 (2002)
- Y. H. Lee, Y. T. Jang, D. H. Kim, J. H. Ahn and B. K. Ju, Adv. Mater., 13, 479 (2001) https://doi.org/10.1002/1521-4095(200104)13:7<479::AID-ADMA479>3.0.CO;2-H
- Y. T. Jang, C. H. Choi, B. K. Ju, J. H. Ahn and Y. H. Lee, Physica B, 334, 9 (2003) https://doi.org/10.1016/S0921-4526(02)02668-6
- G. S. Choi, Y. S. Cho, S. Y. Hong, J. B. Park, K. H. Son and D. J. Kim, J. Appl. Phys., 91, 3847 (2002) https://doi.org/10.1063/1.1448877
- K. S. Choi, Y. S. Cho, S. Y. Hong, J. B. Park and D. J. Kim, J. European Ceramics Society, 21, 2095 (2001) https://doi.org/10.1016/S0955-2219(01)00179-0
- W. J. Yu, Y. S. Cho, G.. S. Choi, D. J. Kim, H. J. Kim and S. G. Yoon, Kor. J. Mat. Res., 13(5), 333 (2003) https://doi.org/10.3740/MRSK.2003.13.5.333
- J. B. Park, Y. S. Cho, S. Y. Hong, K. S. Choi, D. J. Kim, S. Y. Choi, S. D. Ahn, Y. H. Song, J. H. Lee and K. I. Cho, Thin Solid Films, 415, 78 (2002) https://doi.org/10.1016/S0040-6090(02)00507-2
- G. C. Kokkorakis, A. Modinos and J. P. Xanthakis, J. Appl. Phys., 91, 4580 (2002) https://doi.org/10.1063/1.1448403
- Y. Saito, K. Jamaguchi, R. Mizushima, S. Uemura, T. Nagasako, J. Yotani and T. Shimojo, Appl. Surf. Science, 146, 305 (1999) https://doi.org/10.1016/S0169-4332(99)00059-8
- S. Y. Choi, Y. I. Kang, K. I. Cho, G. S. Choi and D. J. Kim, J. Korean Phys. Soc., 39, S193(2001)
- R. H. Fowler and L. W. Nordheim, Proc. R. Soc. London Ser., A119, 173 (1928) https://doi.org/10.1098/rspa.1928.0091
- D. Temple, Mater. Sci. Eng. R24, 185 (1999) https://doi.org/10.1016/S0927-796X(98)00014-X
- H. H. Busta, J. E. Pogemiller and B. J. Zimmerman, IEEE Trans. Elecyron Devices, 40, 1530 (1993) https://doi.org/10.1109/16.223715
- M. Hirakawa, S. Sonoda, C. Tanaka, H. Murakami and H. Yamakawa, Appl. Surf. Science, 167, 662 (2001) https://doi.org/10.1016/S0169-4332(00)00808-4