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40channel Arrayed Waveguide Grating with O.75delta% Refractive Index

0.75Δ% 굴절율차를 가진 40채널 광파장 다중화 및 역다중화 소자 제작 및 특성

  • Moon, H.M. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Choi, G.S. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Lee, K.H. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Kim, D.H. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Lee, J.H. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Lee, D.H. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Oh, J.K (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Kwak, S.C. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Kwon, O.K. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Kang, D.S. (Photonics Planar Integration Technology Inc.) ;
  • Choi, J.S. (Department of Physics, Channam National University) ;
  • Jong, G (Faculty of Applied Chemical Engineering, Channam National University) ;
  • Lee, H.Y. (Faculty of Applied Chemical Engineering, Channam National University)
  • Published : 2005.06.01

Abstract

A 40 channel arrayed-waveguide grating (AWG) filter operating in C-band and L-band wavelength regions has been fabricated using PLC (Planar Lightwave Circuit) processes with 0.75 refractive index difference. Its design was optimized for matching the center wavelength with the ITU-recommended wavelength. The characteristics of the fabricated C-band AWG are as follows; average insertion loss < 2.5 dB, polarization-dependent loss < 0.3 dB, non-adjacent crosstalk >35dB, and the loss uniformity of 0.8 dB. In the L-band AWG, wavelength accuracy is below 0.02nm.

[ $0.75delta\%$ ]의 평판광회로(PLC;Planar Lightwave Circuit)소자의 설계 및 제작기술을 가지고 저손실과 높은 누화율을 가진 파장 다중화 및 역다중화 소자를 개발하였다. C-band AWG(Arrayed Waveguide Grating)에서의 삽입손실은 2.503이하, 누화율은 35dB이상, 균일도는 1dB이하이며 L-band에서는 Vernier 디자인을 적용하여 ITU-T의 파장 정확도가 0.04nm이하가 되도록 제작하였다.

Keywords

References

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