Conversion of Permittivity of PCB Substrate Using Moment Method

모멘트 방법을 사용한 PCB 기판의 유전율 환산

  • Jung Ji-Hyun (Department of Radio Science & Engineering, Korea University) ;
  • Jo Yu-Sun (Imaging and Media Research Center, Korean Institute of Science and Technology) ;
  • Kim Se-Yun (Imaging and Media Research Center, Korean Institute of Science and Technology)
  • 정지현 (고려대학교 전파공학과) ;
  • 조유선 (한국과학기술연구원 영상미디어연구센터) ;
  • 김세윤 (한국과학기술연구원 영상미디어연구센터)
  • Published : 2005.02.01

Abstract

The permittivity profile of PCB substrate in a wide bandwidth is obtained by applying the moment method to the reflection coefficients measured by an open-ended coaxial probe. In this paper, the relation between a reflection coefficients and the corresponding permittivity is expressed into an integral form and the reflection coefficient of PCB substrates with different thickness are calculated using the dispersive FDTD method. The simulation results assure the validity of our conversion procedure within $2.015\%$ error.

광대역에서 PCB 기판의 유전율은 개방 단말 동축선 프로브로 측정된 반사계수를 모멘트 방법에 적용하여 얻을 수 있다. 본 논문에서는 유전율과 반사계수의 관계를 적분식으로 나타내었고, 적분식에 사용되는 서로 다른 두께를 갖는 PCB 기판의 반사계수를 분산 FDTD로 수치 계산하였다. 적분식을 모멘트 방법을 사용하여 해석한 결과 PCB기판의 유전율은 최대 $2.015\%$의 오차 범위 안에서 환산됨을 알 수 있었다.

Keywords

References

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