Development of Visual Inspection System for a CoG

CoG 시각 검사 시스템 개발

  • 정종면 (목포해양대학교 해양전자통신공학부) ;
  • 김치연 (목포해양대학교 해양전자통신공학부)
  • Published : 2006.04.01

Abstract

In this paper, we present a visual inspection system for a CoG using statistical features. After rotational error of an input image is compensated using Hough transformation, an inspection area is obtained by using projection method. Then the final result is derived from statistical features of segmented pad areas.

본 논문에서는 통계적 특징을 이용하여 CoG의 양 불량을 판단하기 위한 시각 검사 시스템을 제안한다. 제안된 시스템은 허프 변환을 이용하여 입력 영상의 회전 오차를 보상한 후 투영 기법을 이용하여 검사 영역을 추출한다. 그런 다음 검사 영역으로부터 패드 영역을 추출하고, 추출된 패드 영역에 대한 통계적 특징을 분석하여 최종적인 검사 결과를 도출하였다.

Keywords

References

  1. R. T. Chin, C. A. Harlow, 'Automated visual inspection: a survey,' IEEE Trans. PAMI, Vol. 4, No.6, pp557-573, 1982
  2. T. S. Newman, A. K. Jain, 'A Survey of automated visual inspection,' Compu. Visual Image Undrestanding 61, pp. 231-262,1995 https://doi.org/10.1006/cviu.1995.1017
  3. S. L. Bartlet, P. J. Besl, C. L. Cole, R. Jain, D. Mukherjee, K. D. Skifstad, 'Automatic solder joint inspection,' IEEE Trans. PAMI, Vol 10, No.1, pp.31-41, 1988 https://doi.org/10.1109/34.3865
  4. T. H. Kim, T. H. Cho, Y. S. Moon, S. H. Park, 'Visual inspection system for the classification of solder joints,' Pattern Recognition, Vol. 32, pp. 565-575, 1999 https://doi.org/10.1016/S0031-3203(98)00103-4
  5. R. A. Zoroofi, H. Taketani, S. Tamura, 'Automated inspection of IC wafer contamination,' Pattern Recognition, Vol. 34, pp. 1307-1317,2001 https://doi.org/10.1016/S0031-3203(00)00070-4
  6. T. Surnimoto, T. Maruyama, Y. Azuma, S. goto, M. Mondou, N. Furukawa, S. Okada, ' Development of image analysis for detection of defects of BGA by using X-ray images,' Proc. of Instrumentation and Measurement Technology Conf., vol. 2, pp. 1131-1136, 2003
  7. R. C. Gonzalez. R. E. Woods, Digital Image Processing, Prentice Hall, Upper Saddle River, New Jersey, 1992
  8. J. L. Devore, Probability and Statistics for Engineering and the Sciences, Brooks/Cole Publishing Company, Pacific Grove, California, 1991