References
- E. Fujii, A. Tomozawa, H. Torii, and R. Takayama, Jpn. J. Appl. Phys. 35, L328 (1996). https://doi.org/10.1143/JJAP.35.L328
- K. D. Lee, J. Korean Vacuum Soc. 9, 48-59 (2000).
- S. Seo, M. J. Lee, D. H. Seo, E. J. Jeoung, D. -S. Suh, Y. S. Joung, I. K. Yoo, I. R. Hwang, S. H. Kim, S. Byun, J. -S. Kim, J. S. Choi, and B. H. Park, Appl. Phys. Lett. 85, 5655 (2004). https://doi.org/10.1063/1.1831560
- D. H. Son, E. K. Kim, J. H. Kim, K. S Lee, T. K. Yim, S. M. An, S. H. Won, J. H. Sok, W. S. Hong, T. Y. Kim, M. G. Jang, and K. W. Park, J. Korean Vacuum Soc. 18, 302 (2009). https://doi.org/10.5757/JKVS.2009.18.4.302
- J. Y. Park, J. W. Bae, S. W. Hwang, K. D. Kim, Y. A. Cho, J. S. Jeon, D. S. Choi, and K. Y, Yeom, J. Korean Vacuum Soc. 8, 507 (1999).
- H. Sato, T. Minami, S. Takata, and T. Yamada, Thin Solid Films 236, 27 (1993). https://doi.org/10.1016/0040-6090(93)90636-4
- M. Schulze, R. Resissner, M Lorenz M, U Radke, and W Schurnberger, Electrochimica Acta 44, 3969 (1999). https://doi.org/10.1016/S0013-4686(99)00172-3
- H. Kim, R. C Auyeung, and A. Pique, Thin Solid Films 516, 5052 (2008). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.11.079
- J. F. Gubbons and W. E. Beadle, Solid-State Electron 7, 785 (1964). https://doi.org/10.1016/0038-1101(64)90131-5
- T. Ishihara, I. Obkubo, K. Tsubouchi, H. Kumigashira, U.S. Joshi, Y. Matsumoto, H. Koinuma, and M. Oshima, Mater. Sci. Engin. B. 149, 40 (2008).
- S. Seo, M. J. Lee, D. H. Seo, E. J. Jeoung, D. -S. Suh, Y. S. Joung, I. K. Yoo, I. R. Hwang, S. H. Kim, S. Byun, J. -S. Kim, J. S. Choi, and B. H. Park, Appl. Phys. Lett. 85, 5655 (2004). https://doi.org/10.1063/1.1831560
- L. S. Birks and H. J. Friedman, Appl. Phys. 17, 687 (1946). https://doi.org/10.1063/1.1707771
- P. P. Chattopadhyay, P. M. Nambissan, S. K. Pabi, and I. Manna, Phys. Rev. B. 63, 054107 (2001). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.63.054107
- J. I. Pankove, Optical process in semiconductors (Prentice Hall, Inc., NewJersey, 1971).
- N. S. Das, B. Saha, R. Thapa, G. C. Das, and K. K. Chattopadhyay, Physica. E. 42, 1377 (2010). https://doi.org/10.1016/j.physe.2009.11.047
- P. Singh, A.K. Chawla, D. Kaur, and R. Chandra, Mater. Lett. 61, 2050 (2007). https://doi.org/10.1016/j.matlet.2006.08.013
- G. W. A. Dummer, Materials for conductive and resistive function (Hayden Book Company Inc, New York, 1970).
- G. Lann, J. Zaanen, G. A. Sawatzky, R. Karnatak, and J. M. Esteva, Phys. Rev. B. 33, 4253 (1986). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.33.4253
- M. Medarde, A. Fontaine, J. L. Munoz, J. R. Carvajal, M. de Santis, M. Sacchi, G. Rossi, and P. Lacorre, Phys. Rev. B. 46, 14975(1992). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.46.14975
- S. K. Sharma, P. Kumar, R. Kumar, M. Knobel, P. Thakur, K. H. Chae, W. K. Choi, R. Kumar, and D. Kanjilal, J. Phys.: Condens. Matter. 20, 285211 (2008). https://doi.org/10.1088/0953-8984/20/28/285211
- K. Terakura, T. Oguchi, A. R. Williams. and J. Kuber, Phys. Rev. B. 30, 4734 (1984). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.30.4734
Cited by
- Effect of Intermediate Metal on the Methanol Gas Sensitivity of ITO Thin Films vol.20, pp.3, 2011, https://doi.org/10.5757/JKVS.2011.20.3.195