Characterizing Overlap Area of KOMPSAT-3

다목적실용위성 3호 Overlap 영역의 특성분석

  • 서두천 (한국항공우주연구원 영상검보정기술팀) ;
  • 김희섭 (한국항공우주연구원 다목적실용위성3호체계팀)
  • Received : 2011.08.28
  • Accepted : 2011.10.21
  • Published : 2011.11.01

Abstract

The KOrea Multi-Purpose Satellite-3 (KOMPSAT-3) provides 0.7 m Ground Sample Distance (GSD) panchromatic image and 2.8 m GSD multi-spectral image data for various applications. The KOMPSAT-3 system data will be applied in the field of earth observations, covering land, sea, coastal zones, and Geographic Information Systems (GIS). In order to keep the swath width of 15km at nadir view of KOMPSAT-3, CCD consist of approximately 24,020 pixels excluding 20 dark pixels at both sides and has overlap region. Because there are no CCD-line sensors with a pixel size of $7{\mu}m$, the field of view is separated into 2 parts and imaged on 2 detectors, each with 12,080 pixels. Therefore, 2 detectors have different geometric characteristic. This paper provides image simulation for geometric characteristics analysis of overlapping area of KOMPSAT-3 using KOMPSAT-2 image data.

다목적실용위성 3호는 고해상도 0.7m 흑백영상을 촬영할 수 있는 PAN 카메라와 2.8m 다중파장대의 칼라 영상을 수집할 수 있는 멀티스펙터럴 카메라를 탑재하고 있다. 이를 통하여 취득한 위성영상은 국토관리, 농업, 환경, 해양감시 및 GIS등의 광범위한 분야에 활용될 예정이다. 다목적실용위성3호의 15km의 관측폭을 가지는 영상을 생성하기 위해, 각 detector의 양 끝단의 20 pixel을 제외하고 24,020 픽셀로 구성된다. 이러한 크기의 CCD를 하나의 CCD로 구성하는 것은 매우 어렵기 때문에 다목적실용위성 3호는 12,080 픽셀로 구성된 두 detector로 구성되며, 따라서 두 detector의 기하학적 특성이 각기 다른 특징을 가지게 된다. 본 연구에서는 다목적실용위성3호의 한 밴드내의 기하학적 특성을 분석하기 위한 시뮬레이션 영상의 생성과정을 서술하고자 한다.

Keywords

References

  1. Jacobsen, K. (1997), Joint Workshop "Sensors and Mapping from Space", Hannover, Calibration of IRS-1C PAN-camera.
  2. Jacobsen, K. (1980/1982), ISP Hamburg 1980 and Photogrametria 1982, Attempt at Obtaining the Best Possible Accuracy in Bundle Block Adjustment, p 219 - 235
  3. 이응식, 공종필 (2009), KOMPSAT-3 EOS Pixel Deirection Convention
  4. ASPRS, (1980) Manual of Photogrammetry 4th Edition, Elsevier, Amsterdam, pp. 321-332.
  5. Mikhail E. M. and Bethel J. S. (2001) Introduction to Modern Photogrammetry, New York, John Wiley and Sons Ins.