Abstract
In this study, we propose an algorithm to simulate the function of the coupling structure and having two neurons to find out exactly recover the temporary or permanent position errors that can occur during operation in a digital circuit was separated by function, a $3{\times}3$ array. If any particular part in the combined cells are differentiated cells have a problem that function to other cells caused an error and perform the same function are subjected to a step of apoptosis by the surrounding cells. Designed as a function block in the function and the internal structure having a cell structure of this digital circuit proposes an algorithm. In case of error of module 4 of block 1 considered in this study, sum of all module numbers for horizontal direction, total module number sum for vertical direction, and sum of all module numbers for diagonal direction, We were able to find the location.
본 연구에서는 뉴런이 지니는 기능 및 결합구조를 모사하여 $3{\times}3$ 배열의 기능별로 분리시킨 후 디지털회로에서 동작 중 발생할 수 있는 일시적 또는 영구적인 오류 위치를 정확히 찾아내어 복구 시키는 알고리즘을 제안한다. 결합된 세포에서 어느 특정 일부분이 문제가 발생할 경우 그 기능을 다른 세포로 분화되어 동일 기능을 수행하며 오류가 발생한 세포는 주변 세포에 의해 사멸시키는 단계를 거친다. 이런 세포가 지니는 기능 및 구조를 디지털 회로내부에 기능 블록구조로 설계하여 알고리즘을 제안하였다. 본 연구에서 고려한 1번 블록의 4번 모듈이 오류가 발생했을 경우가로 방향에 대한 전체 모듈번호에 대한 합, 세로 방향에 대한 전체 모듈 번호 합, 대각선 방향에 대한 전체 모듈 번호의 합을 이용하여 쉽게 그 위치를 찾을 수 있었다.
