• 제목/요약/키워드: CBED

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Comparative study on the specimen thickness measurement using EELS and CBED methods

  • Yoon-Uk Heo
    • Applied Microscopy
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    • 제50권
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    • pp.8.1-8.7
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    • 2020

  • Two thickness measurement methods using an electron energy loss spectroscopy (EELS) and 10a convergent beam electron diffraction (CBED) were compared in an Fe-18Mn-0.7C alloy. The thin foil specimen was firstly tilted to satisfy 10a two-beam condition. Low loss spectra of EELS and CBED patterns were acquired in scanning transmission electron microscopy (STEM) and TEM-CBED modes under the two-beam condition. The log-ratio method was used for measuring the thin foil thickness. Kossel-Möllenstedt (K-M) fringe of the $13{\ba{1}}$ diffracted disk of austenite was analyzed to evaluate the thickness. The results prove the good coherency between both methods in the thickness range of 72 ~ 113 nm with a difference of less than 5%.

  • https://doi.org/10.1186/s42649-020-00029-4 인용 PDF KSCI

수렴성전자회절에 의한 n-형 세라믹 초전도체 $Nd_{2-x}Ce_xCuO_{4-\upsilon}$의 결정구조 전이 연구 (Inestigation on the Structural Transition of n-type Ceramic Superconductor, $Nd_{2-x}Ce_xCuO_{4-\upsilon}$ System of CBED)

  • 김정식;유광수
    • 한국세라믹학회지
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    • 제34권2호
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    • pp.139-144
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    • 1997

  • 결정학적으로 T' 구조인 Nd2-xCexCuO4-$\delta$ 회토류 구리산화물 초전도체는 지금까지 매우 복잡한 미세구조를 지닌 것으로써 잘 알려져 있다. 이 구리산화물 초전도체가 초전도 특성을 띠려면, Nd3+ 이온이 Ce4+ 이온에 의해 소량 치환되고 동시에 산소환원이 필요하다. 본 연구에서는 투과전자현미경의 수렴성 전자회절(CBED)패턴을 이용하여 Nd2-xCexCuO4-$\delta$ 의 Ce 미량 첨가와 미량의 산소환원에 따른 결정구조의 전이 발생 여부에 관하여 고찰하였다. 세 가지의 서로 다른 시편 Nd2CuO3,Nd1.85Ce0.15CuO4 와Nd1.85Ce0.15CuO3.965을 고상소결에 의하여 만들어 이들 각각 시편에 대한 CBED패턴을 주사투과전자현미경(STEM)으로 관찰하였다. 그리고 실험에 의하여 얻은 이들 HOLZ선들과 컴퓨터 계산에 의해 그려진 이론적인 HOLZ선들과 비교하는 방법에 의하여 Nd1.85Ce0.15CuO4의 격자상수를 구하였다.

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Convergent beam electron diffraction의 정량분석을 응용한 재료의 구조분석 (Applications of quantitative convergent beam electron diffraction measurement for structural characterization)

  • 김규현;이민희;정새은;고세현
    • 한국표면공학회:학술대회논문집
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    • 한국표면공학회 2014년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.176-177
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    • 2014

  • The new algorithm was proposed to quantify symmetry recorded in convergent beam electron diffraction (CBED) patterns and symmetry mapping. The proposed algorithm is based on the normalized cross-correlation coefficient (${\gamma}$) for quantifying the amount of symmetry in a CBED pattern. The quantification and mapping procedures are automatically controlled by the script implemented in Gatan Digital Micrograph$^{(c)}$. We apply the quantitative CBED measurement to a strained Si sample to test the sensitivity to defects.

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알바이트의 Si-Al 배열상태 연구를 위한 에너지여과 투과전자현미경의 CBED법 적용 (Application of CBED Techniques of Energy Filtering TEM for Si-Al Disordering Study of Albite)

  • 이영부;김윤중;이정후
    • 한국광물학회지
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    • 제17권4호
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    • pp.327-338
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    • 2004

  • Na-장석(Amelia albite)의 $1100^{\circ}C$ 등온가열에 대한 XRD 분석결과는 Si-Al의 재배열에 의한 급격한 구조변화를 보여주며 4일 이상의 가열에 의해 저온형에서 고온형으로의 상전이를 보였다. TEM의 제한시야전자회절(SAED)법을 이용하여 구조변화 인지를 시도한 결과, 변화의 양상은 보이나 측정 오차에 의해 Si-Al 배열상태의 정량화가 어려웠다. 수렴성빔전자회절(CBED)법을 이용한 연구결과, 관찰을 위한 최적 실험조건은 냉각 시료지지대의 사용과 120 kV의 가속전압, 37 $\mu\textrm{m}$크기의 C3 조리개, 25 nm의 빔 크기로 나타났다. 알바이트의 구조변화에 따라 HOLZ 선이 두드러진 변화를 보인 방향은 [418] 방향에서 약 $-1.2^{\circ}$ 회전한 방향으로 파악되었으며, 이 방향에서는 저온형과 고온형 알바이트에서 두 HOLZ선의 폭이 서로 반대로 나타나 Si-Al 배열상태의 뚜fut한 구별이 가능하였다.

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수렴성 빔 전자회절 도형을 이용한 Al-Ti 합금의 상 분석 (Phase Identification of Al-Ti Alloys Using Convergent Beam Electron Diffraction Pattern)

  • 김혜성
    • 한국산업융합학회 논문집
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    • 제4권2호
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    • pp.149-155
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    • 2001

  • The use of primitive cell volume and zero order Laue (ZOLZ) pattern is proposed to identify phase in a complex microstructure. Single convergent beam electron pattern containing higher order Laue zone ring from a nanosized region is sufficient to calculate the primitive cell volume of the phase, while ZOLZ pattern is used to determine the zone axis of the crystal. A computer program is used to screen out possible phases from the value of measured cell volume from convergent beam electron diffraction (CBED) pattern. Indexing of ZOLZ pattern follows in the program to find the zone axis of the identification from a single CBED pattern. An example of the analysis is given from the rapidly solidified $Al-Al_3Ti$ system.

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Rene 80 주조블레이드에서 격자상수의 결정 및 격자어긋남의 관찰 (Determination of Lattice Parameters and Observation of Lattice Misfits on Rene 80 Cast Blades)

  • 안성욱
    • 분석과학
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    • 제6권5호
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    • pp.515-520
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    • 1993

  • Rene 80 주조블레이드가 고온에서 사용중인 사용 온도에 의해 ${\gamma}^{\prime}$이라는 석출물이 기지(${\gamma}^{\prime}$) 내에서 생성되기 때문에 고온강도는 그 석출물에 좌우된다. 즉, 석출물의 격자상수는 기지의 격자상수보다 크기 때문에 석출물이 생성되거나 성장할 때에 ${\gamma}-{\gamma}^{\prime}$ 격자어긋남(lattice misfit)에 의해 전위가 발생한다고 일반적으로 알려져 있다. 이러한 격자어긋남은 석출물(${\gamma}^{\prime}$)의 크기가 클수록 원형${\rightarrow}$사각형${\rightarrow}$판상형으로 바뀌어 가면서 증가한다. 따라서 본 연구에서는 이러한 격자어긋남의 양을 주사투과전자현미경에서 수렴성 빔전자 회절(CBED)을 사용하여 측정하여, 석출물과 인접한 기지의 전위밀도의 증가가 기지 내에서 석출물이 생성하고 성장함에 따른 격자어긋남이 원인인가를 관찰하였다.

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