• 제목/요약/키워드: One-shot Device

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작은 샘플 크기의 One-shot Devices를 위한 베이지안 신뢰도 추정 (Bayesian Reliability Estimation for Small Sample-Sized One-shot Devices)

  • 문병민;선은주;배석주
    • 한국신뢰성학회지:신뢰성응용연구
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    • 제13권2호
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    • pp.99-107
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    • 2013
  • One-shot device is required to successfully perform its function only once at the moment of use. The reliability of a one-shot device should be expressed as a probability of success. In this paper, we propose a bayesian approach for estimating reliability of one-shot devices with small sample size. We employ a gamma prior to obtain the posterior distribution. Finally, we compare the accuracy of the proposed method with general maximum likelihood method.

AMSAA 모델을 이용한 일회성 체계의 신뢰도성장 예측 (A Reliability Growth Prediction for a One-Shot System Using AMSAA Model)

  • 김명수;정재우;이종신
    • 한국신뢰성학회지:신뢰성응용연구
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    • 제14권4호
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    • pp.225-229
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    • 2014
  • A one-shot device is defined as a product, system, weapon, or equipment that can be used only once. After use, the device is destroyed or must undergo extensive rebuild. Determining the reliability of a one-shot device poses a unique challenge to the manufacturers and users due to the destructive nature and costs of the testing. This paper presents a reliability growth prediction for a one-shot system. It is assumed that 1) test duration is discrete(i.e. trials or rounds); 2) trials are statistically independent; 3) the number of failures for a given system configuration is distributed according to a binomial distribution; and 4) the cumulative expected number of failures through any sequence of configurations is given by AMSAA model. When the system development is represented by three configurations and the number of trials and failures during configurations are given, the AMSAA model parameters and reliability at configuration 3 are estimated by using a reliability growth analysis software. Further, if the reliability growth predictions do not meet the target reliability, the sample size of an additional test is determined for achieving the target reliability.

베이지안 기법을 적용한 일회성 장비의 경제적 시험 수량 연구 (A Study of Economical Sample Size for Reliability Test of One-Shot Device with Bayesian Techniques)

  • 이연호;이계신;이학재;김상문;문기성
    • 한국신뢰성학회지:신뢰성응용연구
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    • 제14권3호
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    • pp.162-168
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    • 2014
  • This paper discusses the application of Bayesian techniques with test data on similar products for performing the Economical Reliability Test of new one-shot device. Using the test data on similar products, reliability test required lower sample size currently being spent in order to demonstrate a target reliability with a specified confidence level. Furthermore, lower sample size reduces cost, time and various resources on reliability test. In this paper, we use similarity as calculating weight of similar products and analyze similarity between new and similar product for comparison of the essential function.

목표 신뢰도를 고려한 원-샷 시스템의 최적검사정책 (Optimal Inspection Policy for One-Shot Systems Considering Reliability Goal)

  • 정승우;정영배
    • 산업경영시스템학회지
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    • 제40권4호
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    • pp.96-104
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    • 2017
  • A one-shot system (device) refers to a system that is stored for a long period of time and is then disposed of after a single mission because it is accompanied by a chemical reaction or physical destruction when it operates, such as shells, munitions in a defense weapon system and automobile airbags. Because these systems are primarily related with safety and life, it is required to maintain a high level of storage reliability. Storage reliability is the probability that the system will operate at a particular point in time after storage. Since the stored one-shot system can be confirmed only through inspection, periodic inspection and maintenance should be performed to maintain a high level of storage reliability. Since the one-shot system is characterized by a large loss in the event of a failure, it is necessary to determine an appropriate inspection period to maintain the storage reliability above the reliability goal. In this study, we propose an optimal inspection policy that minimizes the total cost while exceeding the reliability goal that the storage reliability is set in advance for the one-shot system in which periodic inspections are performed. We assume that the failure time is the Weibull distribution. And the cost model is presented considering the existing storage reliability model by Martinez and Kim et al. The cost components to be included in the cost model are the cost of inspection $c_1$, the cost of loss per unit time between failure and detection $c_2$, the cost of minimum repair of the detected breakdown of units $c_3$, and the overhaul cost $c_4$ of $R_s{\leq}R_g$. And in this paper, we will determine the optimal inspection policy to find the inspection period and number of tests that minimize the expected cost per unit time from the finite lifetime to the overhaul. Compare them through numerical examples.

일회용품의 신뢰성분석 방안 (Reliability analysis methods to one-shot device)

  • 백재욱
    • 산업진흥연구
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    • 제7권4호
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    • pp.1-8
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    • 2022
  • 우리 주위를 살펴보면 한 번 사용하고 버리는 일회용품이 많다. 폭죽이나 탄약과 같은 일회용품이 대표적인데 이들 일회용품은 제조 후 한 동안 저장되어 있다가 필요한 때 사용하고 나면 폐기처분하게 된다. 하지만 이런 일회용품은 일반 운영장비와 달리 신뢰성평가가 제대로 이루어지지 못했다. 이에 본 연구에서는 일회용품 중에서 탄약에 대한 저장탄약신뢰성프로그램을 통해 탄약의 경우 신뢰성 확보를 위해 정부에서 어떤 일을 하는지 먼저 살펴본다. 이어서 통계분석적인 측면에서 탄약과 같은 일회용품에 대한 신뢰성분석 방안으로 어떤 것이 있는지 알아본다. 구체적으로 통계학에서 로트의 품질수준을 파악하는 샘플링검사를 활용하여 일정한 시기에 생산된 탄약에 대한 신뢰성의 수준을 파악할 수 있다. 본 연구에서는 KS Q0001인 계수규준형 1회 샘플링검사표를 이용할 수 있음으로 보여준다. 다음으로 탄약의 저장신뢰도를 파악할 수 있는 방법으로 비모수적인 방법과 모수적인 방법을 소개한다. 비모수적인 방법중에서 특히 Kaplan-Meier 방법은 중도중단데이터가 포함된 경우에도 활용될 수 있다. 마지막으로 모수적인 방법 중에는 신뢰성분석에 많이 활용되는 와이블분포가 탄약의 저장신뢰도를 파악하는 데에도 활용될 수 있다.

PFC용 부스트 컨버터의 병렬화에 의한 효율 개선 (An Improvement Parallel to the Efficiency of Boost Converter for Power Factor Correction)

  • 전내석;장수형;전일영;박영산;안병원;이성근;김윤식
    • 한국마린엔지니어링학회:학술대회논문집
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    • 한국마린엔지니어링학회 2001년도 추계학술대회 논문집(Proceeding of the KOSME 2001 Autumn Annual Meeting)
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    • pp.120-124
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    • 2001
  • A new technique for improving the efficiency of single-phase high-frequency boost converter is proposed. This converter includes an additional low-frequency boost converter which is connected to the main high-frequency switching device in parallel. The additional converter is controlled at lower frequency. Most of the current flows in the low-frequency switch and so, high-frequency switching loss is greatly reduced accordingly Both switching device are controlled by a simple method; each controller consists of a one-shot multivibrator, a comparator and an AND gate. The converter works cooperatively in high efficiency and acts as if it were a conventional high-frequency boost converter with one switching device. The proposed method is verified by simulation. This paper describes the converter configuration and design, and discusses the steady-state performance concerning the switching loss reduction and efficiency improvement.

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Doublet 반사경을 이용한 도트 사이트 장치의 개발 (Development of the Dot Sight Device by Using the Doublet Reflector)

  • 이동희
    • 한국안광학회지
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    • 제13권1호
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    • pp.65-69
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    • 2008
  • 목적: Doublet 반사경을 이용한 조준사격용 도트 사이트 장치의 개발. 방법: Sigma 2000 광학 설계 프로그램으로 Singlet 반사경과 Doublet 반사경을 설계하여 비교 검토하였다. 결과: 유한광선수차 분석에서 기존 Singlet 반사경을 사용한 도트 사이트 장치에 비해 시차(parallax)가 제거된 유효 시야가 3.3배 확대되는 성능을 보인다. Doublet 반사경을 사용하는 경우 광학계의 중심 두께가 기존 Singlet 반사경을 사용한 경우보다 2배 이상 두꺼워지기 때문에 목표점이 관측자의 망막에 결상할 때 Singlet 반사경의 경우와 같이 제1면과 제3면의 곡률반경을 동일하게 할 경우에는 배율 변화가 나타난다. 이를 극복하기 위해 Doublet 반사경인 경우에는 어포칼 조건을 만족하는 것이 필요하다. 결론: 기존의 Singlet 반사경의 방식보다 시차(parallax)가 제거된 유효 시야가 3.3배 확대되는 성능을 가지는 Doublet 반사경을 이용한 조준사격용 도트 사이트 장치를 개발하였다.

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원샷 파노라믹 스캐닝 기반 실시간 다수 얼굴 인식 시스템 (Real-time multiple face recognition system based on one-shot panoramic scanning)

  • 김대환
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국정보통신학회 2022년도 추계학술대회
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    • pp.553-555
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    • 2022
  • 본 논문은 원샷 파노라믹 스캐닝을 기반으로 하는 실시간 자동 얼굴 인식 시스템에 대한 것이다. 한 번의 파노라믹 스캐닝 프로세스를 통하여 실시간으로 다수의 얼굴을 검출하고 사전에 등록된 얼굴을 인식하는 것이다. 한 장의 파노라마 영상 내에서 다수 얼굴 인식을 하는 것이 아닌, 스캐닝 과정에서 얻어진 다수의 영상을 이용하여 얼굴을 인식하도록 한다. 이는 파노라마 영상 생성 시간과 스티칭(Stitching) 오류를 줄임과 동시에 다수 영상의 누적 정보를 활용하여 얼굴 인식 성능을 향상할 수 있다. 이는 간단한 영상 획득 장치만으로 다수 인원의 스마트 출결 시스템과 같은 다양한 응용 프로그램에 사용될 수 있을 것으로 예상한다.

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유도무기 시험평가 방법과 신뢰성 성장을 고려한 시험 수량 산출 (Calculation of Sample Size for Guided Missile Considering Test Method and Reliability Growth)

  • 이연호;김재황;이계신;이종신;이명진;김두현
    • 한국군사과학기술학회지
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    • 제20권6호
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    • pp.844-852
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    • 2017
  • Since guided weapon is high-cost and one-shot device which is non-reusable, it requires a lot of resources to prove required accuracy as a part of reliability demonstration. Once a test for proving accuracy rate of guided missile fails, it causes an additional cost and delay of schedule. This study introduces an equation for proper sample size and plan for guided-missile accuracy rate test in order to minimize the risk of test failure. Proper sample size for the test is derived by considering the reliability growth. Furthermore, each task for accuracy rate test is defined according to the development step. Therefore, this study can contribute to reduce sample size for accuracy rate test in order to meet the reliability requirement and assure transparency in the test process.

프로빗 모델 기반 핀풀러의 작동 신뢰도 추정 (Functional Reliability Estimation of Pin Pullers Based on a Probit Model)

  • 문병민;이진욱;김남호;최창선;김재일;배석주
    • 한국군사과학기술학회지
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    • 제20권2호
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    • pp.225-230
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    • 2017
  • To generate mechanical movements in one-shot devices such as missiles and space launch vehicles, pyrotechnic mechanical device(PMD) such as pin pullers using pyrotechnic charge has been widely used. Reliability prediction of pin pullers is crucial to successfully execute target missions for the one-shot devices. Because the pin pullers require destructive tests to evaluate their reliability, one would need about 3,000 samples of success to guarantee a reliability of 99.9 % with a confidence level of 95 %. This paper suggests the application of a probit model using the charge amount as a functional parameter for estimation of functional reliability of pin puller. To guarantee target reliability, we propose estimation methods of the lower bound of functional reliability by applying the probit model. Given lower bound of functional reliability, we quantitatively show that the optimum amount of charge increases as the number of samples decreases. Along with a variety of simulations the validity of our new model via real test results is confirmed.