• 한국통계학회:학술대회논문집
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• 한국통계학회 2001년도 추계학술발표회 논문집
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• pp.185-189
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• 2001

In this paper, we consider the problem of testing for parameter changes in time series models based on a sequential test. Although the test procedure is well-established for the mean and variance change, a general parameter case has not been discussed in the literature. Therefore, we develop a sequential test for parameter changes in a more general framework.

• 한국신뢰성학회지:신뢰성응용연구
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• 제3권2호
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• pp.137-143
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• 2003

Sequential test plans are characterized by decision rules for accepting or rejecting compliance, or continuing the test at my test time. They are determined by selected values of risks and discrimination ratio. The sequential test plans in the international standard such as MIL-HDBK-781A are based on the assumption that the underlying distribution of times between failures is exponential. In this paper, sequential test plans are extended to the Weibull distribution case. Simulation studies are performed to examine the reasonability in this extension.

• 한국통신학회논문지
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• 제30권6C호
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• pp.532-540
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• 2005

이 논문에서는 새로운 약신호 검파 기법을 얻어, 그 기법과 국소 최적 검파 기법을 바탕으로 순차 검파 방식을 이끌어낸다. 먼저, 1부에서는 새로운 약신호 검파 기법을 제안하고, 흥미로운 문턱값 성질을 몇가지 밝히며, 여러 가지 잡음 분포에서 문턱값 보기를 다룬다. 한편, 2부에서는 제안한 순차 검파 방식의 성능을 고정 표본 검파 방식, 순차 확률비 검파 방식, 끝을 자른 순차 확률비 검파 방식의 성능과 견주어 본다.

• 한국통신학회논문지
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• 제30권10C호
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• pp.1027-1035
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• 2005

이 논문에서는, 약한 신호를 검파하는 데에 알맞도록 1부에서 얻은 순차 검파 방식의 성능을 고정 표본 검파방식, 순차 확률비 검파 방식, 끝을 자른 순차 확률비 검파 방식의 성능과 견주어 본다. 제안한 순차 검파 방식은 순차 확률비 검파 방식과 견주어 볼 때, 얼개가 같거나 덜 복잡하고 신호를 더 빠르게 검파할 때가 많다. 아울러, 제안한 순차 검파 방식은 고정 표본 검파 방식과 끝을 자른 순차 확률비 검파 방식과 견주어 얼개가 덜 복잡하거나 같고 필요한 관측수가 늘 적다.

• 전자공학회논문지C
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• 제35C권9호
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• pp.38-48
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• 1998

비동기 순차 회로에 대한 시험 벡터를 생성하는 문제는 매우 어려운 문제로 남아 있다. 현재까지 이 문제에 대한 알고리즘은 거의 없었다. 그리고, 기존의 접근 방식은 시험 벡터를 생성하는 동안에는 피이드백 루프를 절단하여 그 곳에 플립플롭이 있는 것처럼 가정하고 시험 벡터를 생성하는 방식이었다. 그래서, 기존의 알고리즘은 동기 순차 회로용 시험 벡터 생성 알고리즘과 매우 유사하였다. 이것은 시험 벡터를 생성할 때에는 비동기 순차회로를 동기 순차 회로로 가정하고 시험 벡터를 생성한다는 것을 의미한다. 그러므로, 생성된 시험 벡터가 비동기 순차 회로에 적용되었을 때, 대상 결함을 검출하지 못할 수도 있다는 것을 나타낸다. 본 논문에서는 비동기 순차 회로에 대한 시험 벡터를 생성할 수 있는 알고리즘을 제시하였다. 본 논문에서 제안된 알고리즘을 적용하여 생성된 시험 벡터는 임계레이스(critical race) 문제와 순환(oscillation) 문제의 발생을 최소로 하면서 비동기 순차 회로의 결함을 검출할 수 있다. 그리고, 본 논문에서 제안된 알고리즘을 적용하여 생성된 시험 벡터는 비동기 순차 회로에 대해서 대상 결함을 검출하는 것이 보장된다.

• Journal of Communications and Networks
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• 제11권2호
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• pp.122-133
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• 2009

As wireless spectrum resources become more scarce while some portions of frequency bands suffer from low utilization, the design of cognitive radio (CR) has recently been urged, which allows opportunistic usage of licensed bands for secondary users without interference with primary users. Spectrum sensing is fundamental for a secondary user to find a specific available spectrum hole. Cooperative spectrum sensing is more accurate and more widely used since it obtains helpful reports from nodes in different locations. However, if some nodes are compromised and report false sensing data to the fusion center on purpose, the accuracy of decisions made by the fusion center can be heavily impaired. Weighted sequential probability ratio test (WSPRT), based on a credit evaluation system to restrict damage caused by malicious nodes, was proposed to address such a spectrum sensing data falsification (SSDF) attack at the price of introducing four times more sampling numbers. In this paper, we propose two new schemes, named enhanced weighted sequential probability ratio test (EWSPRT) and enhanced weighted sequential zero/one test (EWSZOT), which are robust against SSDF attack. By incorporating a new weight module and a new test module, both schemes have much less sampling numbers than WSPRT. Simulation results show that when holding comparable error rates, the numbers of EWSPRT and EWSZOT are 40% and 75% lower than WSPRT, respectively. We also provide theoretical analysis models to support the performance improvement estimates of the new schemes.

• 대한전자공학회논문지
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• 제13권3호
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• pp.1-6
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• 1976

이 논문에서는 Boolean difference를 이용하여 combinational 및 sequential 논리회로에서 발생하는 기능적인 고장에 대한 test pattern을 얻는 방법을 연구하였다. 이 방법은 test pattern을 얻고자 하는 회로의 Boolean 함수의 Boolean difference를 계산하므로써 체계적으로 test pattern을 얻는 절차를 보여주고 있다. 컴퓨터에 의한 실험결과에 의하며 이 방법은 combinational 회로 및 asynchronous sequential 회로에 적합하며, clock이 있는 flip flop을 적당히 모형화함으로서 이 방법을 synchronous sequential회로에도 적용할 수 있음이 입증되었다. In this paper, a method of test pattern generation for the functional failure in both combinational and sequentlal logic networks by using exterded Boole an difference is proposed. The proposed technique provides a systematic approach for the test pattern generation procedure by computing Boolean difference of the Boolean function that represents the Logic network for which the test patterns are to be generated. The computer experimental results show that the proposed method is suitable for both combinational and asynchronous sequential logic networks. Suitable models of clocked flip flops may make it possible for one to extend this method to synchronous sequential logic networks.

• Journal of the Korean Statistical Society
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• 제1권1호
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• pp.11-17
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• 1973

A class of sequential binomial tests and a sequential rank test can be applied for testing two treatments when subjects are paired in many-to-one ratio. The efficiency of each test is examined in terms of the average sample number. The binomial tests are much easier and more convenient to apply than the rank test not as efficient. Within the class of binomial test, the median test appears to be the most efficient is general.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 1987년도 전기.전자공학 학술대회 논문집(II)
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• pp.1507-1511
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• 1987

This paper proposes a NAND-NAND logic sequential Programmable Logic Array (PLA) using CMOS technology, and test generation methods about stuck-open faults. By using LSSD (Level Sensitive Scan Design) method instead of Flip-Flops in Sequential PLA, the complex test problems of sequential logic are simplified. After generating the test sets using connection graph, regular test sequences and all transistor faults detection method in PLA are proposed. Finally, by programming these algorithms in PASCAL at VAX 8700 and adopting these to pratical CMOS Sequential PLA circuits, we proved the effectiveness of this design.

• Journal of the Korean Statistical Society
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• 제30권4호
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• pp.679-691
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• 2001

Two truncated sequential tests are developed for the two-sample scale problem based on the usual Wilcoxon rank-sum statistic for two different dispersion indices - absolute median deviations, when the medians of the two populations X and Y are equal or known and sums of squared mean deviations, when the medians are either unknown or unequal. The first test is briefly called SWAMD test and the second SWSMD test. For the SWAMD test, the percentile points for both the one-sided and two-sided alternatives, (equation omitted) have been found by Wiener approximation and their values computed for a range of values of a and N; analytical expression for the power function has been derived through Wiener process and its performance studied for various sequential designs for exponential distribution. This test has been illustrated by a numerical example. All the results of the SWAMD test, being directly applicable to the SWSMD test, are not dealt with separately Both the tests are compared and their suitable applications indicated.