안정화된 간섭계와 FFT를 이용한 표면 측정

Surface profile measurement with FFT method and stabilized interferometer

  • 류진 (조선대학교 대학원 광응용공학과) ;
  • 김현수 (조선대학교 공과대학 광기술공학과) ;
  • 박종락 (조선대학교 공과대학 광기술공학과) ;
  • 김진태 (조선대학교 광기술공학과)
  • 발행 : 2004.10.01

초록

The moduled interferometer with waveplates, polarizing beam splitter, etc. for four phase shifted interference patterns was stabilized with the and Fast Fourier Transform (FFT) method was used to investigate the surface profile measurement from the interferenece pattern from Twyman-Green interferometer using a mathcad.

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