Design of the 25nm LDD MOSFET Process using MicroTec Tool

MicroTec을 이용한 25nm LDD MOSFET Process 설계

  • Han, Ji-Hyung (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Jung, Hak-Kee (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Lee, Jae-Hyung (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Jeong, Dong-Soo (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Lee, Jong-In (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University) ;
  • Kwon, Oh-Shin (School of Electronic and Information Eng., Kunsan National University)
  • 한지형 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 정학기 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 이재형 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 정동수 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 이종인 (군산대학교 전자정보공학부) ;
  • 권오신 (군산대학교 전자정보공학부)
  • Published : 2008.10.31

Abstract

본 연구에서는 MicroTec을 이용하여 25nm LDD MOSFET Process를 구현하였다. LDD MOSFET의 저농도 도핑은 드레인의 끝에서 발생할 수 있는 핫 캐리어 효과를 감소시키는데 도움을 주며, 낮은 접합깊이는 DIBL 효과 및 전하공유와 같은 단채널효과를 감소시키는 중요한 역할을 한다. MicroTec 툴의 Sidif를 사용하여 25nm LDD MOSFET process를 설계하였고, 시뮬레이션 하는 과정과 방법을 설명하였다. 이온주입 양과 에너지의 크기를 증가하면서 전체도핑농도를 비교 분석하였다. 이온주입 양을 증가시키고 에너지의 크기가 커지면 더 강한 에너지가 가해지게되므로 높게 도핑되는 영역이 확장되고 전체 농도분포도 역시 확장되는걸 알 수 있었다.

Keywords