한국전기전자재료학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference)
- 한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집
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- Pages.360-360
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- 2010
Test Time감축을 위한 자동 검사 설비 제어방법에 관한 연구
Researching the Control Methodology for Automatic Test Equipment Apparatus for Test Time Reduction
- Byun, Do-Hoon (Samsung Institute of Technology University) ;
- Choi, S.C. (Samsung Institute of Technology University) ;
- Yun, B.H. (Samsung Electronics Foundry PE/TEST)
- 발행 : 2010.06.16
초록
반도체 산업은 지속적인 design rule 감소로 인해 직접도 및 Pin Count가 점점 증가함에 따라 보증해야할 회로의 수와 기능이 더불어 증가하고 있으며, 그 중 Test Cost 감소 방법 확보가 시급하게 되었다. 이에 따라 Test Cost 감소와 직결된 Test Time 감소 방법이 다양하게 제시되고 연구되고 있다. 본 논문은 Test Time의 한 부분인 반도체 검사 장비 (Automatic Test Equipment)의 효율적인 제어 방법을 제공함으로써, 관련 분야의 이해를 돕고자 한다.