항공전자 장비 신뢰도 향상 방안 연구

A Study on Reliability Improvement of Avionics Equipment

임베디드 시스템의 일종인 항공전자 장비는 높은 안전성과 신뢰도를 요구한다. 항공전자 장비 고장은 항공기 운용에 중대한 영향을 미칠 뿐만 아니라 최악의 경우에는 조종사와 승객의 인명 손실을 초래할 수도 있다. 본 논문에서는 항공전자 장비의 신뢰도를 높이기 위해 장비에 발생 가능한 고장을 사전에 감지할 수 있는 Built-In-Test(이하: BIT) 설계 기법과 장비의 Mean Time Between Failure(이하: MTBF)를 향상시킬 수 있는 설계 방법을 연구하고 실제 항공전자 장비에 적용하여 신뢰도를 향상시킨 사례를 소개한다.

Avionics, a type of embedded system, requires high safety and reliability. Failure of avionics equipment can have a significant impact on aircraft operations and, in the worst case, could result in loss of life for pilots and passengers. In this paper, we propose a Built-In-Test (hereafter referred to as BIT) design technique that can detect possible faults in avionics equipments in order to increase the reliability of avionics system and a design that can improve the Mean Time Between Failure (hereafter: MTBF) and applied it to real aviation electronic equipment to improve reliability.