Fault Analysis in Multivalued Combinational Circuits Using the Boolean Difference Concpt

부울 미분을 이용한 다치 논리 회로에서의 결함 해석

Any logical stuckft faults in multivalued combinational circuits are analyzed using the concept of Boolean difference. The algebra employed is the implementation oriented algebra developed by Allen and Givone. All the lines in the circuit are classified into five types according to their properties. For each type, the equation that represents the complete test set is derived and proved. All the results in examples are confumed to be correct by comparing the truth tables of the normal and faulty circuits.

부울 미분의 개념을 응용하여, Allen-Givone implementation oriented algebra에 의한 다치 논리 회로내의 결함을 해석했다. 회로내의 모든 라인을 그 성질에 따라 다섯 가지 유형으로 분류하였으며 각 유형별로 완전한 테스트 세트를 표현하는 식을 유도하고 증명했다. 이들 식의 실제 응용예의 결과는 진리표와의 비교에 따라 옳음이 확인되었다.