이종기판을 사용한 저온에서의 실리콘 박막 용액 성장법

Low temperature solution growth of silicon on foreign substrates

  • Soo Hong Lee (Energy/Environment Lab., Materials & Device Research Center, Samsung Advanced Institute of Technology, Suwon 440-600, Korea) ;
  • Martin A. Green (Center for Photovoltaic Devices and Systems, University of New South Wales, Kensington, N.S.W. 2033, Australia)
  • 발행 : 1994.03.01

초록

금 비스무스 용매를 사용하여 실리콘 박막을 사파이어, 보로실리케이트 그라스 기판상에 성장시켰다. 사파이어의 경우 $380~460^{\cire}C$ 에서 14 $\mu\textrm{m}$ 두께의 실리콘막이 성장되었으며, 그라스 기판의 경우 $420~520^{\circ}C$ 온도 범위에서 수백 $\mu\textrm{m}$ 사이즈의 큰 결정립이 형성되었다. 이결과는 저가의 박막태양전지를 제조하는데 응용될 것으로 사료된다.

Deposition of silicon on pretreated sapphire and glass substrates has been investigated by the solution growth method at low temperatures. An average 14 $\mu\textrm{m}$ thickness of silicon was grown over a large area on sapphire substrate originally coated with a much thinner silicon layer [0.5 $\mu\textrm{m}$ (100) Si/(1102) sapphire)] at low temperatures from $380~460^{\cire}C$. Successful results were obtained from surface treated glass substrates in the temperatures range from $420~520^{\circ}C$.

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