A Study on the Efficient Dynamic Memory Usage in the Path Delay Fault Simulation

經路遲延故障 시뮬레이션의 效率的인 動的 메모리 使用에 관한 硏究

As the circuit density of VLSI grows and its performance improves, delay fault testing of VLSI becomes very important. Delay faults in a circuit can be categorized into two classes, gate delay faults and path delay faults. This paper proposed two methods in dynamic memory usage in the path delay fault simulation. The first method is similar to that used in concurrent fault simulation for stuck-at faults and the second method reduces dynamic memory usage by not inserting a fault descriptor into the fault list when its value is X. The second method, called Implicit-X method, showed superior performance in both dynamic memory usage and simulation time than the first method, called Concurrent-Simulation-Like method.

집적회로의 집적도가 높아지고 성능이 향상됨에 따라 회로의 지연고장에 대한 관심이 날로 높아지고 있다. 회로의 지연고장은 게이트 지연고장과 경로지연고장으로 분류할 수 있는데, 이 논문에서는 경로지연고장 시뮬레이션에 대한 두 가지 동적 메모리 사용 방법을 제안하였다. 첫 번째 방법은 고착고장에 대한 동시 고장 시뮬레이션과 유사한 방식이며, 두 번째 방법은 고장기술자의 값이 X일 때 이를 고장리스트에 삽입하지 않는 묵시적-X 방식이다. 제안된 두 방식 중 묵시적-X 방식이 동적 메모리 사용과 시뮬레이션 시간 측면에서 효율적이었다.