Abstract
In thin paper, error tolerance of each array element which satisfies error tolerance of beam pattern is decided by using the Monte-Carlo method. Conventional deterministic method decides the error tolerance of each element from the acceptance pattern by testing all cases, but this method is not suitable for the analysis of large number of array elements because the computation resources increase exponentially as the number of array elements increases. To alleviate this problem, we applied new algorithm which reduces the increment of calculation time increased by the number of the array elements. We have validates the determined error tolerance region through several simulation.
본 논문에서는 Monte-Carlo 방법으로 빔패턴 오차의 허용범위를 만족하는 개별소자의 허용오차를 규정하였다. 일반적으로 사용되는 통계적인 방법은 불규칙한 특성을 갖는 랜덤오차를 정규분포를 갖는 랜덤 변수로 모델링을 하여 개별소자의 오차범위를 규정하는데, 이러한 방법은 해석하고자 하는 배열소자의 개수증가에 따라 계산량이 지수승으로 늘어나게 되어 많은 소자배열에는 적합하지 않게 된다. 이러한 단점을 보완하기 위해서 이 논문에서는 Monte-Carlo 방법을 사용하여 배열소자의 증가에 따른 계산량의 증가를 줄이는 새로운 알고리즘을 제안하였다. 그리고 이렇게 규정된 오차의 범위를 간단한 모의실험을 통해서 검증하였다.
