Line-edge Detection using 2-D Wavelet Function in Degraded Image by AWGN

AWGN에 훼손된 영상에서 2-D 웨이브렛 함수를 이용한 라인-에지 검출

  • 배상범 (부경대학교 공과대학 제어계측공학과) ;
  • 김남호 (부경대학교 공과대학 제어계측공학과)
  • Published : 2004.06.01

Abstract

Edge includes variety of information about image's location and shape etc. So a lot of researches for detecting those edges have been continuing even now and at the early stage of the research, edge detection operators searched neighborhood pixels and used relation among pixels. However, these methods do not have excellent performance in the image which exists noise and can not detect edges selectively. For this reason, in this paper we detected image's line-edge element from degraded image by AWGN (additive white gaussian noise) with wavelet function which is independent of line's width.

에지는 영상에서 위치와 모양 등에 대한 다양한 정보를 포함하고 있다. 그러므로, 이러한 에지를 검출하기 위한 많은 연구가 이루어져 왔으며, 초기에 사용한 에지 검출 연산자는 인접한 화소를 조사하고, 각 화소들 사이에 대한 관계를 이용하는 것이었다. 그러나, 이러한 방법들은 노이즈가 존재하는 영상에서는 우수한 성능을 나타내지 못하며, 선택적인 에지 검출이 불가능하다. 따라서, 본 논문에서는 라인 폭에 의존하지 않는 웨이브렛 함수를 사용하여, AWGN에 훼손된 영상으로부터 라인-에지 성분을 검출하였다.

Keywords

References

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