한국전기전자재료학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference)
- 한국전기전자재료학회 1994년도 춘계학술대회 논문집
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- Pages.116-119
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- 1994
SONOSFET EEPROM웨 열화에 따른 Si-SiO$_2$ 계면특성 조사
Investigation on Si-SiO$_2$ Interface Characteristics with the Degradation in SONOSFET EEPROM
초록
The characteristics of the Si-SiO
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